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Verigy 93000中直流参数的并行测试方法

时间:2024-08-12 18:30:29 作者:解决方案 点击:1 次

  行业激烈竞争的阶段,提高测试效率、降低测试成本,是从业者需要思考和解决的课题。

  Verigy93000是单一平台的可升级检测系统,它是满足SoC 技术全面集成需要的芯片检测系统解决方案。

  本论文阐述一种测试方法使得Verigy 93000 进行直流参数测试时独立并行使用硬件资源,从而节省测试时间,提高测试效率。

  PMU 是Verigy 93000 进行DC 测试最常用的硬件资源(如图1 所示)。当前应用最广泛的Pinscale检测系统中的PMU 有两种, 一种称为PPMU(Per- Pin PMU),包含在每个数字通道内。根据检测系统的配置结构,大头能够达到2048 个,小头1024个;另一种HPPMU (High Precision PMU,高精度PMU),每个Group中一个,大头有8 个,小头结构就只有4 个。因此在测试中,只要PPMU 的参数范围和精度满足芯片需求,我们尽可能使用PPMU,并通过合适的编程方法做到硬件资源完全并行使用,加快测试速度。

  Verigy 93000 中每块DPS 板卡能够给大家提供8 路电源通道,电源通道除了给芯片提供电源外,还具有加电压测电流的功能,这通常用于芯片的功耗测试。

  PPMU 是Verigy 93000 中每一个数字通道都有的硬件资源,它具有加电压测电流(VFIM)和加电流测电压(IFVM)两种功能。应用这两种功能进行DC 测试,通常有两种实现方法。

  1) 传统方法:通过调用PPMU 相应的API(可编程应用接口) PMU_VFIM (加电压测电流)和PMU_IFVM(加电流测电压)来实现。但应用这种办法来进行测试时,如果不同的管脚需要不同的测试条件,测试时每个管脚是串行执行的,这样机台per- pin 的PMU 资源的优势就没有得到最好发挥,测试时间会相应增加。

  2) Flex DC 测试方式:可以做到使用PPMU 测试不同条件的PIN 时完全独立,互不影响。因此,在使用PMU 进行DC 测试时,为了提高测试效率,增加产出,在测试条件允许的情况下,测试者尽可能采用这种方法。

  Flex DC 测试方法在程序中通过PPMU_SETTING、PPMU_RELAY、PPMU_MEASURE以及TASK_LIST 创建任务列表的方法来实现。此时,我们需要把不同测试条件的PIN 对应的PPMU的工作模式及条件范围、RELAY 的状态、测试结果的获取分别设定为相同的SETTING、RELAY 和MEASURE 中,然后把上述设定添加到同一个任务列表中。这样, 对于上述SETTING、RELAY 和MEASURE 中的不同pin 包含的动作,机台在执行测试的过程中是完全独立并行的,可以做到资源的最优利用。

  以一款电源芯片为例,该芯片大部分为DC 测试项,另加小部分功能测试。下面我们来看测试中采用Flex DC 测试方法和直接采用PPMU_IFVM来测试,测试时间的对比情况。(如表2 所示)。

  表中对比能够准确的看出,如不对测试程序来优化,单芯片测试时相差0.6 s,双芯片同时测试相差0.9s;对测试程序来优化(主要是针对多芯片测试,使不同位置的芯片测试中能并行进行的动作同时执行),时间差值就更明显,单芯片为0.9 s,双芯片达1.6 s。可见,采用Flex DC 的测试方式,可以有实际效果的减少测试时间。

  结合Verigy 93000 SoC 测试机台的特点,讨论了一种DC 测试资源的并行使用方法。根据结果得出该方法在测试中能完全并行使用硬件资源,使测试时间大大降低。